Nachricht

Apr 26, 2023

Schaltkreisschutzlösung macht die Entwicklung von Elektrofahrzeugen sicherer

Spencer Chin | 11. Mai 2023 Ingenieure entwerfen Hochspannungselektrik

Spencer Chin | 11. Mai 2023

Ingenieure, die elektrische Hochspannungs-Subsysteme in Elektrofahrzeugen und Hybrid-Elektrofahrzeugen entwerfen, benötigen einen Mechanismus zum Schutz der Hochspannungsverteilung und der Lasten im Falle einer Überlastung. Um eine schnellere und zuverlässigere Lösung zum Schutz von Hochspannungsschaltkreisen bereitzustellen, hat Microchip Technology die angekündigtE-Fuse-Demonstratorboard, erhältlich in sechs Varianten für 400- bis 800-V-Batteriesysteme und mit einer Stromstärke von bis zu 30 Ampere.

Aufgrund seines Hochspannungs-Festkörperdesigns kann der E-Fuse-Demonstrator Fehlerströme in Mikrosekunden erkennen und unterbrechen, 100 bis 500 Mal schneller als herkömmliche mechanische Ansätze. Die schnelle Reaktionszeit reduziert Spitzenkurzschlussströme erheblich von mehreren zehn Kiloampere auf Hunderte von Ampere und verhindert so, dass ein Fehlerereignis zu einem schweren Ausfall führt.

Laut Clayton Pillion, Vizepräsident des Siliziumkarbid-Geschäftsbereichs von Microchip, mildert das Festkörperdesign der E-Sicherung auch Bedenken hinsichtlich der langfristigen Zuverlässigkeit elektromechanischer Geräte zum Schaltkreisschutz, da es zu keiner Verschlechterung durch mechanische Stöße, Lichtbögen oder Kontakt kommt prallen.

Mit der rücksetzbaren Funktion des E-Fuse-Demonstrators können Designer eine E-Fuse problemlos in das Fahrzeug einbauen, ohne die Last von Design-für-Wartungs-Einschränkungen auf sich nehmen zu müssen. Dies reduziert die Designkomplexität und ermöglicht eine flexible Fahrzeugverpackung, um die Verteilung des BEV/HEV-Stromsystems zu verbessern.

Dank der integrierten LIN-Kommunikationsschnittstelle (Local Interconnect Network) können OEMs mit dem E-Fuse-Demonstrator die Entwicklung von SiC-basierten Hilfsanwendungen beschleunigen. Die LIN-Schnittstelle ermöglicht die Konfiguration der Überstrom-Auslösecharakteristik, ohne dass Hardwarekomponenten geändert werden müssen, und meldet außerdem den Diagnosestatus.

Der E-Fuse-Demonstrator nutzt die Leistung der SiC-MOSFET-Technologie von Microchip und der Core Independent Peripherals (CIPs) von PIC®-Mikrocontrollern mit einer LIN-basierten Schnittstelle. Die Begleitkomponenten sind für die Automobilindustrie geeignet und bieten im Vergleich zu einem diskreten Design eine geringere Teileanzahl und eine höhere Zuverlässigkeit.

Microchip unterstützt das E-Fuse Demonstrator Board mitMPLAB® X Integrierte Entwicklungsumgebung (IDE) um Kunden die schnelle Entwicklung oder Fehlerbehebung von Software zu ermöglichen. DerSerieller LIN-AnalysatorMit dem Entwicklungstool können Kunden problemlos serielle Nachrichten von einem PC an das E-Fuse-Demonstratorboard senden und empfangen.

Spencer Chin ist leitender Redakteur für Design News und berichtet über den Elektronik-Trend. Er verfügt über langjährige Erfahrung in der Entwicklung von Komponenten, Halbleitern, Subsystemen, Energie und anderen Aspekten der Elektronik sowohl aus Geschäfts-/Lieferketten- als auch aus Technologieperspektive. Er ist erreichbar unter [email protected]

Weitere Informationen zu Textformaten